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- - Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos, semiconductores
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INSTRUMENTOS Y APARATOS DE ÓPTICA, FOTOGRAFÍA O CINEMATOGRAFÍA, DE MEDIDA, CONTROL O PRECISIÓN; INSTRUMENTOS Y APARATOS MEDICOQUIRÚRGICOS; PARTES Y ACCESORIOS DE ESTOS INSTRUMENTOS O PARATOS
- Los demás instrumentos y aparatos:
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Término
Metadatos
- - Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos, semiconductores
9030.82
Términos genéricos
TG
↑
- Los demás instrumentos y aparatos:
Términos específicos
TE3
9030.82.10 ↓
Para prueba de circuitos integrados
►
▼
TE4
9030.82.10.000M ↓
Para prueba de circuitos integrados
TE3
9030.82.90 ↓
Los demás
►
▼
TE4
9030.82.90.000Q ↓
Los demás
Fecha de creación
11-Feb-2019
Término aceptado
11-Feb-2019
Términos descendentes
4
ARK
ark:/99152/t350w9nd526og2
Términos específicos
2
Términos alternativos
0
Términos relacionados
0
Notas
0
Metadatos
BS8723-5
DC
MADS
SKOS-Core
VDEX
XTM
Zthes
JSON
JSON-LD
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